Seria XF Sondy pola bliskiego LANGER
Sondy i przyrządy LANGER EMV na YouTube
Zestaw sond pola bliskiego typu XF, pasywne, pasmo 30 MHz - 6 GHz
Rodzina XF składa się z czterech sond pola magnetycznego i trzech sond pola elektrycznego
Dostępny jest zestaw XF1 (cztery sondy pola magnetycznego B i jedna sonda pola E) oraz zestawy niestandardowe
POBIERZ BROSZURĘ - Zestaw sond pola bliskiego typu XF
Zestaw XF1Near-Field Sondy 30 MHz do 6 GHz
Zestaw XF1 składa się z czterech sond pola magnetycznego i jednej sondy pola E do pomiaru pól E i pól magnetycznych od 30 MHz do 6 GHz na zespołach elektronicznych podczas fazy rozwoju. Ze względu na zintegrowane dopasowanie impedancji sondy są mniej czułe w zakresie niższych częstotliwości niż sondy typu RF. Głowice sondy zestawu XF1 pozwalają na stopniowe lokalizowanie źródeł zakłóceń pola magnetycznego na zespołach. Najpierw sonda XF-R 400-1 służy do wykrywania zakłóceń elektromagnetycznych z większych odległości. Następnie sondy wyższej rozdzielczości mogą być użyte do dokładniejszego wykrywania źródeł zakłóceń. Sonda pola elektrycznego służy do wykrywania elektrycznych pól interferencyjnych w pobliżu zespołów. Dzięki wyszkolonemu użyciu sond bliskiego pola można wykryć orientację pola i rozkład pola. Sondy bliskiego pola są małe i poręczne. Mają one bieżącą osłonę tłumiącą i dlatego są ekranowane elektrycznie. Można je podłączyć do analizatora widma lub oscyloskopu z wejściem 50 Ω. Mają wewnętrzny opór dopasowujący impedancję.
Zestaw zawiera:
1x XF-B 3-1, H-Field Probe 30 MHz do 6 GHz
1x XF-E 10, E-Field Probe 30 MHz do 6 GHz
1x XF-R 3-1, H-Field Probe 30 MHz do 6 GHz
1x XF-R 400-1, H-Field Probe 30 MHz do 6 GHz
1x XF-U 2.5-1, sonda H-Field 30 MHz do 6 GHz
1x SMA-SMA 1 m, przewód pomiarowy SMA-SMA
1x obudowa 5
Parametry techniczne:
Zakres częstotliwości 30 MHz ... 6 GHz
Rezystancja wyjściowa 50 Ω
Waga 400 g
Sondy w zestawie:
XF-B 3-1 - Sonda H-Field 30 MHz do 6 GHz
Cewka pomiarowa sondy XF-B 3-1 H-field jest ustawiona pod kątem 90 ° względem wału sondy. Po ustawieniu głowicy sondy pionowo, cewka pomiarowa bezpośrednio dotyka powierzchni płytki drukowanej. Pozwala to na stosowanie w miejscach na powierzchni obwodów drukowanych.
XF-E 10 - Sonda E-Field 30 MHz do 6 GHz
Elektroda w głowicy sondy XF-E 10 ma szerokość ok. 0,2 mm. Dzięki sondom można znaleźć nawet najmniejsze źródła pola E, np. prowadzenie ścieżek o szerokości 0,1 mm lub pojedynczych wyprowadzeń w wielopinowych układach scalonych. W celu dokonania pomaru, sonda pola E jest umieszczona na obiekcie.
XF-R 3-1 - Sonda H-Field 30 MHz do 6 GHz
Sonda bliskiego pola XF-R 3-1 jest przeznaczona do bezpośrednich pomiarów wysokiej rozdzielczości pól magnetycznych RF w zespole, np. wokół pinów i obudów IC, ścieżek przewodzących, kondensatora odsprzęgającego i komponentów EMC.
XF-R 400-1 - Sonda H-Field 30 MHz do 6 GHz
Ze względu na dużą średnicę (25 mm) i wysoką rozdzielczość, sonda XF-R 400-1 jest odpowiednia do pomiarów w odległości do 10 cm wokół zespołów i urządzeń.
XF-U 2.5-1 - Sonda H-Field 30 MHz do 6 GHz
Sonda zbliżeniowa XF-U 2.5-2 przeznaczona jest do selektywnych pomiarów prądów RF w ścieżkach przewodzących, złączach komponentów, komponentach SMD i kołkach IC. Głowica sondy ma magnetycznie aktywną szczelinę z ok. szerokość 0,5 mm.